轴对称束流的高空间分辨率电子温度和密度测量方法
公开
摘要
本发明公开了一种轴对称束流的高空间分辨率电子温度和密度测量方法,包括图像获取,图像重构,建立发射系数和电子温度、密度的关系式。本发明的技术方案,可以在不干扰等离体束流的情况下,得到束流区的电子温度和密度分布;本发明拍摄两张照片结合后续的数据处理可以得到高空间分辨率的电子温度和密度分布,测量方法简单。
基本信息
专利标题 :
轴对称束流的高空间分辨率电子温度和密度测量方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114599141A
申请号 :
CN202210258107.0
公开(公告)日 :
2022-06-07
申请日 :
2022-03-16
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
汤海滨韩星王一白刘宇张尊曹晋滨
申请人 :
北京航空航天大学
申请人地址 :
北京市海淀区学院路37号
代理机构 :
北京天汇航智知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
史继颖
优先权 :
CN202210258107.0
主分类号 :
H05H1/00
IPC分类号 :
H05H1/00 G01N21/73
法律状态
2022-06-07 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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