单波束时延检校方法
公开
摘要
单波束时延检校方法，属于时延检校技术领域，包括以下步骤：步骤S1:通过多波束测深系统，对标定场地进行测量，生成数字高程模型，得到数字高程模型数据。步骤S2:通过单波束测深系统，对标定场地进行测量，获得带有时延的单波束水下地形数据。步骤S3:根据得到的数字高程模型数据与单波束水下地形数据，并通过地形匹配技术，解算得到最优的时延参数。步骤S4:通过得到的时延参数，改正单波束水下地形数据，并进行验证。步骤S4:通过得到的时延参数，改正单波束测深系统的单波束水下地形数据，并进行验证。本发明通过利用DEM作为基础数据，解决了时延参数解算失败或者时延参数解算精度较低的问题。
基本信息
专利标题 ：
单波束时延检校方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114563019A
申请号 ：
CN202210260876.4
公开（公告）日 ：
2022-05-31
申请日 ：
2022-03-16
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
李最森魏荣灏徐达段文义任少华陈佳兵龚令平
申请人 ：
浙江省水利河口研究院（浙江省海洋规划设计研究院）
申请人地址 ：
浙江省杭州市杭海路658号
代理机构 ：
杭州裕阳联合专利代理有限公司
代理人 ：
吴文杰
优先权 ：
CN202210260876.4
主分类号 ：
G01C25/00
IPC分类号 ：
G01C25/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01C
测量距离、水准或者方位；勘测；导航；陀螺仪；摄影测量学或视频测量学
G01C25/00
有关本小类其他各组中的仪器或装置的制造、校准、清洁或修理
法律状态
2022-05-31 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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