基于微束X射线荧光的铝合金组织显微偏析定量表征方法
公开
摘要

本发明公开了一种基于微束X射线荧光的铝合金组织显微偏析定量表征方法,首先选择管电压、管电流、扫描时间的最优组合,实现测试结果的最优化;采用含量校正法实现合金元素准确定量;利用优化后参数采集全局任意位置含量数据,将计算机程序数据处理与原位统计分布分析技术相结合,对获取的面分布、线分布、频度分布、偏析度、统计偏析度、偏析比等成分数据进行详细解析;探索成分数据与组织形貌之间的分布规律,根据EBSD及图像分割结果建立再结晶显微偏析关联模型;应用建立的模型,对比评价材料显微偏析程度。本发明极大地消除了单一视场或数据统计的误差,实现同类材料或不同类材料显微偏析程度表征,实现材料中异常组织的快速筛查。

基本信息
专利标题 :
基于微束X射线荧光的铝合金组织显微偏析定量表征方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114594118A
申请号 :
CN202210269862.9
公开(公告)日 :
2022-06-07
申请日 :
2022-03-18
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
孙丹丹王辉韩冰王海舟董彩常赵雷李冬玲
申请人 :
钢研纳克检测技术股份有限公司
申请人地址 :
北京市海淀区高梁桥斜街13号
代理机构 :
北京中睿智恒知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
邓大为
优先权 :
CN202210269862.9
主分类号 :
G01N23/223
IPC分类号 :
G01N23/223  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/223
通过用X射线或γ射线辐照样品以及测量X射线荧光
法律状态
2022-06-07 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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