基于多源信息的产品可靠性薄弱环节综合评估方法和装置
授权
摘要

本申请涉及一种基于多源信息的产品可靠性薄弱环节综合评估方法、装置、计算机设备、存储介质和计算机程序产品。所述方法包括:获取待测产品每一部件在实际使用过程中的故障数据,故障数据包括故障时刻;根据每一部件的故障数据,确定每一部件的平均故障前时间;根据每一部件的平均故障前时间,将最小平均故障前时间对应的部件作为待测产品实际使用的薄弱环节;采用可靠性仿真分析软件,获取每一部件的仿真故障率;将最大仿真故障率对应的部件作为待测产品仿真过程的薄弱环节;根据薄弱环节集合,确定待测产品的可靠性薄弱环节;薄弱环节集合包括待测产品实际使用的薄弱环节和待测产品仿真过程的薄弱环节。

基本信息
专利标题 :
基于多源信息的产品可靠性薄弱环节综合评估方法和装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114355094A
申请号 :
CN202210270597.6
公开(公告)日 :
2022-04-15
申请日 :
2022-03-18
授权号 :
CN114355094B
授权日 :
2022-06-10
发明人 :
潘广泽李丹陈勃琛王春辉王远航刘文威丁小健董成举郭广廓
申请人 :
中国电子产品可靠性与环境试验研究所((工业和信息化部电子第五研究所)(中国赛宝实验室))
申请人地址 :
广东省广州市增城区朱村街朱村大道西78号
代理机构 :
华进联合专利商标代理有限公司
代理人 :
周旋
优先权 :
CN202210270597.6
主分类号 :
G01R31/00
IPC分类号 :
G01R31/00  G01M7/02  G06F30/20  G06F111/08  G06F119/14  G06F119/02  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置;电故障的探测装置;以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置;在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66;线路传输系统的测试入H04B3/46)
法律状态
2022-06-10 :
授权
2022-05-03 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/00
申请日 : 20220318
2022-04-15 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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