航空电子产品电磁性能裕量分析与确信可靠性评估方法
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摘要

本发明提供了一种航空电子产品电磁性能裕量分析与确信可靠性评估方法,该方法包括:系统分析,明确航空电子产品功能结构、系统逻辑关系以及关键部件和航空电子产品周围电磁环境,获得航空电子受到的电磁环境应力;确定航空电子产品关键性能参数及其阈值;确定航空电子产品的薄弱环节因素;通过量化内外因参数对关键性能参数的影响,建立考虑内外因参数不确定性的性能裕量模型;进行确信可靠性评估,计算确信可靠度。本发明从电磁性能参数角度出发,确定航空电子产品电磁环境下的薄弱环节因素,为航空电子产品的设计改进提供指导,考虑了失效过程对电磁性能参数的影响,并通过内外因参数不确定性来量化系统不确定性,完成系统的确信可靠性评价。

基本信息
专利标题 :
航空电子产品电磁性能裕量分析与确信可靠性评估方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN112949094A
申请号 :
CN202110394974.2
公开(公告)日 :
2021-06-11
申请日 :
2021-04-13
授权号 :
CN112949094B
授权日 :
2022-05-10
发明人 :
陈颖王艳芳初巧慧康锐
申请人 :
北京航空航天大学
申请人地址 :
北京市海淀区学院路37号
代理机构 :
北京孚睿湾知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
王冬杰
优先权 :
CN202110394974.2
主分类号 :
G06F30/20
IPC分类号 :
G06F30/20  G06F111/04  G06F111/08  G06F119/02  G06F119/14  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F30/20
设计优化、验证或模拟
法律状态
2022-05-10 :
授权
2021-07-02 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06F 30/20
申请日 : 20210413
2021-06-11 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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