本发明提供了一种超分辨率元器件角度识别装置及方法，对元器件的图像进行采集，并对采集到的目标元器件细节特征进行放大，再结合直线拟合方法，精确计算得到元器件贴装角度信息，并将元器件角度计算值与预设值进行比较，自动判定待测元器件是否符合测试要求。本发明的有益效果：对于小封装的元器件，本发明针对AOI设备以及人眼都难以精确判定元器件贴装角度，检测精度较差，很难满足生产和检测的问题，采用图像超分辨率处理方法，提高元器件的贴装精度，保证电路板运行稳定性。