一种电子元器件瑕疵识别方法
实质审查的生效
摘要
本发明提供一种电子元器件瑕疵识别方法及检测设备、存储介质，包括极箔瑕疵检测过程、芯包瑕疵检测过程，所述极箔瑕疵检测过程包括：S101提取图片中待测目标信息，确定待测目标位置在图片中的具体位置；S102获取待测目标的极箔信息，并与极箔预设值比对，确定极箔信息是否符合极箔预设值，若不符合，则为瑕疵电子元器件；所述芯包瑕疵检测过程包括：S201确定芯包在图片中的位置；S202获取芯包信息，并与芯包预设值比对，确定芯包信息是否符合芯包预设值，若不符合，则为瑕疵电子元器件。本发明设置了极箔瑕疵检测过程、芯包瑕疵检测过程，可对电子元器件的极箔、芯包进行有效识别，降低人工的需要，提高电子元器件出厂前的检测效率。
基本信息
专利标题 ：
一种电子元器件瑕疵识别方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114518365A
申请号 ：
CN202210166659.9
公开（公告）日 ：
2022-05-20
申请日 ：
2022-02-22
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
郭名鹏王桂林
申请人 ：
湖南云眼智能装备有限公司
申请人地址 ：
湖南省株洲市天元区创业大道128号天易科技城自主创业园A6-2-227
代理机构 ：
广州三环专利商标代理有限公司
代理人 ：
汤博
优先权 ：
CN202210166659.9
主分类号 ：
G01N21/88
IPC分类号 ：
G01N21/88 G01N21/95
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
G01N21/88
测试瑕疵、缺陷或污点的存在
法律状态
2022-06-07 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/88
申请日 : 20220222
申请日 : 20220222
2022-05-20 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
