一种水平调节系统
公开
摘要

本发明属于中子散射谱仪技术领域,公开一种水平调节系统,该水平调节系统包括真空箱体、粗调机构、精调机构以及密封支撑机构;粗调机构包括第一支撑柱,第一支撑柱支撑连接于真空箱体;精调机构设置于真空腔内且与真空腔的内壁形成间隔,准直系统安装于精调机构上;密封支撑机构包括第二支撑柱以及波纹管,第二支撑柱的一端固定连接于粗调机构,第二支撑柱的另一端穿过真空箱体的箱壁并支撑连接于精调机构,波纹管套设于第二支撑柱的外周,且波纹管的一端密封连接于粗调机构,波纹管的另一端密封连接于真空箱体。本发明将精调机构与真空腔的内壁间隔设置,避免准直系统受到真空箱体形变的影响,提高准直系统在真空箱体内的准直精度。

基本信息
专利标题 :
一种水平调节系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114594115A
申请号 :
CN202210312420.8
公开(公告)日 :
2022-06-07
申请日 :
2022-03-28
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
林雄肖松文左太森马长利程贺
申请人 :
散裂中子源科学中心;中国科学院高能物理研究所
申请人地址 :
广东省东莞市大朗镇中子源路1号
代理机构 :
北京品源专利代理有限公司
代理人 :
李林
优先权 :
CN202210312420.8
主分类号 :
G01N23/202
IPC分类号 :
G01N23/202  G01N23/20025  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射,例如,用于测试晶体结构;利用材料辐射的散射,例如测试非晶材料;利用材料辐射的反射
G01N23/201
测量小角散射,例如小角X射线散射
G01N23/202
利用中子
法律状态
2022-06-07 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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