复杂成分样品含轻元素矿物的定量识别方法、系统和设备
授权
摘要

本发明属于材料分析领域,具体涉及了一种复杂成分样品含轻元素矿物的定量识别方法、系统和设备,旨在解决现有扫描电镜矿物成分分析方法对含轻元素矿物误测的问题。本发明包括:对样品进行背散射图像和同视域X射线能谱采集;根据X射线能谱获得初分类矿物成分和面积占比数据;将无法利用X射线能谱区分、在元素种类上仅相差轻元素的矿物统一标记为系列A,获得初分类矿物分布图像;将初分类矿物分布图像叠加在背散射电子信号图上,根据灰度差别提取含轻元素和不含轻元素矿物分布图像;计算各矿物面积占比,进而获得各矿物重量占比和分布。本发明能够利用扫描电镜矿物分析技术对复杂成份样品中含轻元素矿物的面分布和含量进行精确定量表征。

基本信息
专利标题 :
复杂成分样品含轻元素矿物的定量识别方法、系统和设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114486962A
申请号 :
CN202210336241.8
公开(公告)日 :
2022-05-13
申请日 :
2022-04-01
授权号 :
CN114486962B
授权日 :
2022-06-14
发明人 :
原园杨继进邓泽李亚男张继东
申请人 :
中国科学院地质与地球物理研究所;中国石油天然气股份有限公司勘探开发研究院廊坊分院
申请人地址 :
北京市朝阳区北土城西路19号
代理机构 :
北京市恒有知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
郭文浩
优先权 :
CN202210336241.8
主分类号 :
G01N23/20091
IPC分类号 :
G01N23/20091  G01N23/203  G01N23/2206  G01N23/2251  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/20
利用材料辐射的衍射,例如,用于测试晶体结构;利用材料辐射的散射,例如测试非晶材料;利用材料辐射的反射
G01N23/20091
通过测量衍射辐射的能量色散谱EDS
法律状态
2022-06-14 :
授权
2022-05-31 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 23/20091
申请日 : 20220401
2022-05-13 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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