双黑体高精度红外相对光谱响应度测试装置及其测试方法
公开
摘要
本发明提供一种双黑体高精度红外相对光谱响应度测试装置及其测试方法，其中的测试装置包括：双黑体系统、中继镜头、红外单色仪、汇聚镜头、镀金积分球、双探测器系统和控制处理系统；黑体输出的光束经过中继镜头入射到红外单色仪内，控制红外单色仪输出单色光，再经汇聚镜头，入射到镀金积分球内，在积分球出光口形成均匀的光斑，分别被双探测器系统中的标准探测器和待测探测器接受，再经控制处理系统转换为数字信号。在同一波长位置两个探测器分别获得高温黑体和低温黑体的两种辐射信号。经过数据处理获得待测探测器的相对光谱响应度。本发明有效减少单高温黑体对测试结果的影响，解决了因测试系统温度变化导致测试结果偏差较大的问题。
基本信息
专利标题 ：
双黑体高精度红外相对光谱响应度测试装置及其测试方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114608703A
申请号 ：
CN202210380614.1
公开（公告）日 ：
2022-06-10
申请日 ：
2022-04-12
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
李宪圣刘洪兴于健姜帆聂婷
申请人 ：
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
申请人地址 ：
吉林省长春市经济技术开发区东南湖大路3888号
代理机构 ：
长春中科长光知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
郭婷
优先权 ：
CN202210380614.1
主分类号 ：
G01J3/28
IPC分类号 ：
G01J3/28 G01J3/02 G01J3/10
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J3/00
光谱测定法；分光光度测定法；单色器；测定颜色
G01J3/28
光谱测试
法律状态
2022-06-10 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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