强度调制的光信号的采样与量化方法及装置
实质审查的生效
摘要
一种强度调制的光信号的采样与量化方法及装置，属于光信号处理技术领域。包括：1）采用采样电脉冲信号对强度调制的光信号进行调制，得到带强度调制的光信号信息的采样光脉冲信号，完成光采样；2）采样光脉冲信号分成m路，延迟后的m路采样光脉冲信号合为一路，得到展宽后的采样光脉冲信号；3）展宽后的采样光脉冲信号进行光电转换和放大，得到电信号；4）在时钟电信号的控制下，对电信号进行量化，得到量化后的数据信号；5）对量化后的数据信号进行数据融合与处理。本发明采用采样电脉冲信号对强度调制的光信号进行调制，得到带强度调制的光信号信息的采样光脉冲信号，实现对强度调制的光信号的直接采样，提高工作效率，降低系统成本。
基本信息
专利标题 ：
强度调制的光信号的采样与量化方法及装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114513259A
申请号 ：
CN202210408123.3
公开（公告）日 ：
2022-05-17
申请日 ：
2022-04-19
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
黄涛邱琪范志强苏君
申请人 ：
电子科技大学
申请人地址 ：
四川省成都市高新区（西区）西源大道2006号
代理机构 ：
电子科技大学专利中心
代理人 ：
吴姗霖
优先权 ：
CN202210408123.3
主分类号 ：
H04B10/54
IPC分类号 ：
H04B10/54 H04B10/2575
法律状态
2022-06-03 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : H04B 10/54
申请日 : 20220419
申请日 : 20220419
2022-05-17 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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