一种电容失配校准方法及电路
实质审查的生效
摘要
本发明提供一种电容失配校准方法及电路，包括：第一电容阵列、第二电容阵列及参考电容，其中：第一电容阵列、第二电容阵列及参考电容的上极板均连接在一起；基于工作状态切换第一电容阵列的下极板、第二电容阵列的下极板及参考电容的下极板的电压值，以此计算得到第一电容阵列与第二电容阵列相对于参考电容的偏差。通过计算第一电容阵列与第二电容阵列相对于参考电容的偏差，对第一电容阵列及第二电容阵列中的电容进行校准，设计ADC、DAC等数据转换器，从而提高数据转换器的精度。通过种子矩阵最终得到一个非零的行列式矩阵，计算第一电容阵列及第二电容阵列中每一个电容的具体校准值，操作过程简化，运算量小，有效地节约计算资源。
基本信息
专利标题 ：
一种电容失配校准方法及电路
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114553229A
申请号 ：
CN202210447242.X
公开（公告）日 ：
2022-05-27
申请日 ：
2022-04-27
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
刘尧刘筱伟李建平班桂春朱志晞刘森
申请人 ：
微龛（广州）半导体有限公司
申请人地址 ：
广东省广州市高新技术产业开发区科学大道18号A栋十一层1101单元
代理机构 ：
上海光华专利事务所(普通合伙)
代理人 ：
余明伟
优先权 ：
CN202210447242.X
主分类号 ：
H03M1/10
IPC分类号 ：
H03M1/10
法律状态
2022-06-14 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : H03M 1/10
申请日 : 20220427
申请日 : 20220427
2022-05-27 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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