一种硅基液晶老化检测设备
公开
摘要
本发明公开一种硅基液晶老化检测设备，包括一柜体和滑动插设在所述柜体内的抽屉，所述柜体内设有温控单元和控制单元，所述抽屉内设有若干真空吸附单元，所述真空吸附单元内吸附固定有芯片，所述芯片和真空吸附单元与所述温控单元和控制单元电连接。本发明将检测的控制设备均设置在柜体内，抽屉内仅设置芯片夹具以及相关电连接装置，有效简化结构，提高空间利用率，并且便于拆卸安装硅基液晶芯片和夹具；硅基液晶芯片通过真空吸附固定在抽屉内，有效避免了检测时芯片损坏，减少产品损坏率，提高合格率，并且更换产品方便，提高老化效率，可适配不同型号的硅基液晶芯片的检测需求。
基本信息
专利标题 ：
一种硅基液晶老化检测设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114609511A
申请号 ：
CN202210500115.1
公开（公告）日 ：
2022-06-10
申请日 ：
2022-05-10
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
张华薛银飞魏超
申请人 ：
上海菲莱测试技术有限公司
申请人地址 ：
上海市浦东新区中国(上海)自由贸易试验区祥科路111号3号楼717室
代理机构 ：
南京源点知识产权代理有限公司
代理人 ：
黄晨
优先权 ：
CN202210500115.1
主分类号 ：
G01R31/28
IPC分类号 ：
G01R31/28 G01R1/02 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试，例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-06-10 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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