一种用于精密测量的被动式激光跟踪仪
授权
摘要
本实用新型提供一种用于精密测量的被动式激光跟踪仪，属于误差精密测量领域。包括上下转台模块、伸缩机构模块和自准直模块。下转台模块作为底座支撑，上转台模块位于下转台模块正上方并，且可绕下转台模块的竖直轴进行方位角方向的转动；伸缩机构模块与上转台模块固接，伸缩机构模块可绕上转台模块的横轴进行俯仰角方向的转动；自准直模块分别位于上下转台模块中，用来测量转台中轴的倾斜角度。本实用新型的被动式激光跟踪仪结构简单，成本低，能非常有效的测量被测目标的空间位置。
基本信息
专利标题 ：
一种用于精密测量的被动式激光跟踪仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202220034522.3
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2022-01-07
授权号 ：
CN216694823U
授权日 ：
2022-06-07
发明人 ：
娄志峰任伟鹏
申请人 ：
大连理工大学
申请人地址 ：
辽宁省大连市甘井子区凌工路２号
代理机构 ：
辽宁鸿文知识产权代理有限公司
代理人 ：
苗青
优先权 ：
CN202220034522.3
主分类号 ：
G01B11/00
IPC分类号 ：
G01B11/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
法律状态
2022-06-07 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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