一种测试设备用精密恒流源电路
授权
摘要
本实用新型公开了一种测试设备用精密恒流源电路，包括输入缓冲电路模块以及恒流输出电路模块；所述输入缓冲电路模块包括稳压电路单元以及第一运放单元，用于输出稳定的电压信号；所述恒流输出电路模块包括第二运放单元，所述恒流输出电路模块输入端与所述输入缓冲电路模块输出端连接，用于输出稳定的电流信号。本实用新型满足高阻抗负载、高精度的恒流要求。
基本信息
专利标题 ：
一种测试设备用精密恒流源电路
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202220164311.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2022-01-21
授权号 ：
CN216697091U
授权日 ：
2022-06-07
发明人 ：
张阳
申请人 ：
上海恩弼科技有限公司
申请人地址 ：
上海市黄浦区制造局路787号二幢259B室
代理机构 ：
上海唯源专利代理有限公司
代理人 ：
曾耀先
优先权 ：
CN202220164311.1
主分类号 ：
G05F1/56
IPC分类号 ：
G05F1/56
IPC结构图谱
G
G部——物理
G05
控制；调节
G05F
调节电变量或磁变量的系统
G05F1/00
从系统的输出端检测的一个电量对一个或多个预定值的偏差量并反馈到系统中的一个设备里以便使该检测量恢复到它的一个或多个预定值的自动调节系统，即有回授作用的系统
G05F1/10
调节电压或电流
G05F1/46
其中由末级控制器实际调节的变量是直流的
G05F1/56
利用与负载串联的半导体器件作为末级控制器的
法律状态
2022-06-07 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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