一种多频段多极化相控阵天线测试近场设备
授权
摘要
本实用新型属于相控阵天线技术领域，公开了一种多频段多极化相控阵天线测试近场设备，包括：屏蔽暗箱，容纳各个部件；位置调节机构，置于屏蔽暗箱内底面上，调节检测端的空间位置；旋转运动机构，设置在位置调节机构的移动端上，调节检测端的检测角度；激光测距仪，设置在旋转运动机构的旋转端上；近场测试探头，设置在旋转运动机构的旋转端上；和可微调天线承载平台，置于位置调节机构旁的屏蔽暗箱内底面上，安装待测相控阵天线。本实用新型能够根据检测需求调节近场测试探头和空间位置和检测角度，同时利用激光测距仪随时跟进检测位置，从而实现多频段多极化相控阵天线的近场测试。
基本信息
专利标题 ：
一种多频段多极化相控阵天线测试近场设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202220845190.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2022-04-13
授权号 ：
CN216560792U
授权日 ：
2022-05-17
发明人 ：
彭科
申请人 ：
成都智芯雷通微系统技术有限公司
申请人地址 ：
四川省成都市天府新区华阳街道长江东二街56号1栋1层1室
代理机构 ：
重庆坤源衡泰律师事务所
代理人 ：
桑洋洋
优先权 ：
CN202220845190.7
主分类号 ：
G01R29/10
IPC分类号 ：
G01R29/10 G01R1/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R29/00
不包括在G01R19/00至G01R27/00各组中的电量的测量或指示装置
G01R29/08
电磁场特性的测量
G01R29/10
天线的辐射图
法律状态
2022-05-17 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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