大同视场下的物像比对仪制造法
被视为撤回的申请
摘要
“大同视场下的物像比对仪制造法”是一种光学仪器制造法，主用于刑事技术检验，其特征是将一个普通平面镜和一个折光镜，相隔一定距离平行组合，构成反射透射联合光路系统，可实现在大视场下的同一视场中，对透过折光镜的一比对物实像和经平面镜折光镜作两次反射后的另一比对物虚像进行同位置并立比较。线条接合，特征重叠的比对检验。既能定性又能定量地鉴别同异和真伪，而且简便、准确、迅速。本装置也可用于其它领域比对检验。
基本信息
专利标题 ：
大同视场下的物像比对仪制造法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN85100846A
申请号 ：
CN85100846
公开（公告）日 ：
1986-07-09
申请日 ：
1985-04-01
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
赵长安张玉洁苏尔古冷
申请人 ：
内蒙古自治区刑事科学研究所
申请人地址 ：
内蒙古自治区呼和浩特市公安厅院内
代理机构 ：
内蒙专利服务中心
代理人 ：
李树基
优先权 ：
CN85100846
主分类号 ：
G01B9/08
IPC分类号 ：
G01B9/08
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B9/00
组中所列的及以采用光学测量方法为其特征的仪器
G01B9/08
光学投影比较仪
法律状态
1988-05-25 ：
被视为撤回的申请
1986-07-09 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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