一种微小光程差测量系统
专利权的终止未缴纳年费专利权终止
摘要
一种微小光程差测量系统属于物理学领域中一种光学计量测试装置〔G01J9/00〕，它是利用光拍相位变化来测量微小光程差的一种光电系统。本发明采用含有电光移相器的双臂可调程平行光路作为二不同频率光的非共程光路，选用了具有较佳性能参数的双频激光，因而使系统可测量1～一个光波长范围的微小位移；也可测量具有微小折射率变化或微小变形的透明体在1～一个光波长范围的微小光程变化，并可给出程差变化过程或其分布。
基本信息
专利标题 ：
一种微小光程差测量系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN85102287A
申请号 ：
CN85102287.1
公开（公告）日 ：
1986-08-06
申请日 ：
1985-04-01
授权号 ：
CN85102287B
授权日 ：
1987-05-20
发明人 ：
徐炳德
申请人 ：
中国科学院长春光学精密机械研究所
申请人地址 ：
吉林省长春市斯大林街112号
代理机构 ：
中国科学院长春专利事务所
代理人 ：
刘树清
优先权 ：
CN85102287.1
主分类号 ：
G01J9/04
IPC分类号 ：
G01J9/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J9/00
测量光学相位差；测定相干性的程度；测量光学波长
G01J9/04
通过差拍同一光源但频率不同的两个波而测量所获得的较低频率的相位偏移
法律状态
1991-08-07 ：
专利权的终止未缴纳年费专利权终止
1987-12-02 ：
授权
1987-05-20 ：
审定
1986-08-06 ：
公开
1986-06-10 ：
实质审查请求
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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