磁光效应联合测试仪
专利权的终止
摘要
本发明是用于科研、生产检测和教学的磁光效应联合测试仪器。由于使用了半透镜，并配合对部件的新设计，使本发明的仪器能够测量光盘介质等磁光效应材料的纯极向柯尔磁光效应偏转角，并能够用同一光束同时对试样测得柯尔磁光效应偏转角和法拉弟磁光效应偏转角。这些都对光盘等材料的科学研究和生产检测非常有用。本发明配以其他设备，可对试样进行磁滞回线、居里温度等的测量。总之，本发明的仪器具有纯极向、多功能、使用方便、测试准确等优点。
基本信息
专利标题 ：
磁光效应联合测试仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN85103001A
申请号 ：
CN85103001.7
公开（公告）日 ：
1986-09-10
申请日 ：
1985-04-01
授权号 ：
CN85103001B
授权日 ：
1987-12-23
发明人 ：
王煜明孟昭富夏思科
申请人 ：
吉林大学
申请人地址 ：
吉林省长春市解放大路79号
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN85103001.7
主分类号 ：
G01N21/21
IPC分类号 ：
G01N21/21
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/21
影响偏振的性质
法律状态
1990-08-15 ：
专利权的终止
1989-05-24 ：
授权
1987-12-23 ：
审定
1987-02-25 ：
实质审查请求
1986-09-10 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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