狭缝X射线照像装置
专利权的终止专利权有效期届满
摘要
狭缝X线照像装置包括经狭缝阑对受射物体用基本为平面扇形的X线来进行扫描的X线源，穿过物体的X线束照射到X线检测器上本装置包括与光阑协同动作的多个可控衰减元件，每一元件能在辐射检测装置产生的信号控制下影响X线束的一部分辐射检测装置位于受射物和X线检测器之间，其中包括至少一个始终伸入穿过物体的X线束中并与其扫描运动同步动作的辐射检测器。该检测器分成多个部分以与衰减元件影响的X线束各部分对应，工作时每部分产生控制衰减元件的信号。
基本信息
专利标题 ：
狭缝X射线照像装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN85106558A
申请号 ：
CN85106558.9
公开（公告）日 ：
1987-03-18
申请日 ：
1985-08-31
授权号 ：
CN1003819B
授权日 ：
1989-04-05
发明人 ：
西蒙·杜英克雨果·夫拉斯布劳姆
申请人 ：
老代尔夫特光学工业有限公司
申请人地址 ：
荷兰代尔夫特2612万米尔维特兰9
代理机构 ：
中国国际贸易促进委员会专利代理部
代理人 ：
张卫民
优先权 ：
CN85106558.9
主分类号 ：
G21K1/04
IPC分类号 ：
G21K1/04 G01N23/04 G01T1/17 G03B42/02 H05G1/30
IPC结构图谱
G
G部——物理
G21
核物理；核工程
G21K
未列入其他类目的粒子或电离辐射的处理技术；照射装置；γ射线或X射线显微镜
G21K1/00
粒子或电离辐射的处理装置，如聚焦或慢化
G21K1/02
使用光阑、准直器
G21K1/04
应用可变光阑、活门、斩波器
法律状态
2001-04-25 ：
专利权的终止专利权有效期届满
1989-11-08 ：
授权
1989-04-05 ：
审定
1987-03-18 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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