带图象补偿的狭缝X-射线照像用装置

专利权的终止未缴年费专利权终止

摘要

一种带有图象补偿的狭缝X-射线照像用装置，它包括一个二维辐射剂量计，用以探测透过物体的X-射线量。在一次扫描期间，该剂量计的不同部分可探测透射的X-射线。此外，存在一个基本上平行的电极系统。这些平行电极在扫描方向上延伸，并与一个为了对吸收装置形成控制信号的控制装置相连。

基本信息

专利标题：

带图象补偿的狭缝X-射线照像用装置

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN88102754A

申请号：

CN88102754.5

公开（公告）日：

1988-11-30

申请日：

1988-05-12

授权号：

CN1011825B

授权日：

1991-02-27

发明人：

马尔德·亨德里科

申请人：

老代尔夫特光学工业有限公司

申请人地址：

荷兰代尔夫特

代理机构：

中国国际贸易促进委员会专利代理部

代理人：

王以平

优先权：

CN88102754.5

主分类号：

G01T1/185

IPC分类号：

G01T1/185 G03B42/02 A61B6/02

IPC结构图谱

G部——物理

G01

测量；测试

G01T

核辐射或X射线辐射的测量

G01T1/00

X射线辐射、γ射线辐射、微粒子辐射或宇宙线辐射的测量

G01T1/16

辐射强度测量

G01T1/185

用电离室装置

法律状态

2000-07-05 ：

专利权的终止未缴年费专利权终止

1998-11-25 ：

著录项目变更

变更事项 : 专利权人
变更前 : 老代尔夫特光学工业有限公司
变更后 : 代尔夫特仪器知识产权有限公司

1991-11-13 ：

授权

1991-02-27 ：

审定

1990-06-20 ：

实质审查请求

注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。

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