用放射线分析测定物组份的方法
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
本发明涉及非破坏性分析测定物的物质构成和组分的方法。用任意的放射线对由多种元素或物质构成的测定物进行照射，让透射测定物的透射线对准多个单晶体，取出多种具有特定能量的透射线，并能根据测定物的厚度和组成元素自由地改变取出的透射线能量，用放射线检测装置分析这些透射线，据此对测定物中各构成元素的组分进行分析，不仅分析精高度，而且确保分析操作容易，所需成本低。
基本信息
专利标题 ：
用放射线分析测定物组份的方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN85107357A
申请号 ：
CN85107357.3
公开（公告）日 ：
1986-10-15
申请日 ：
1985-09-28
授权号 ：
CN1011440B
授权日 ：
1991-01-30
发明人 ：
田村顺一原亮一安倍文彦小相沢久
申请人 ：
古河电气工业有限公司
申请人地址 ：
日本国东京都千代田区丸内二丁目6番1号
代理机构 ：
上海专利事务所
代理人 ：
王树俦
优先权 ：
CN85107357.3
主分类号 ：
G01N23/223
IPC分类号 ：
G01N23/223
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
G01N23/223
通过用X射线或γ射线辐照样品以及测量X射线荧光
法律状态
1995-11-08 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1991-08-21 ：
授权
1991-01-30 ：
审定
1988-02-03 ：
实质审查请求
1986-10-15 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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