动态真空八位光导靶面测试台
专利权的终止
摘要
本实用新型是一个动态真空八位光导靶面测试台，它是用于测试光导摄象管靶面物理参数的装置，其主要特点在于具备测量光电惰性的全套电路及辅助装置，此外在机械结构上本实用新型还采用了：1)磁力耦合非接触式的机械传动装置。2)特殊磁铁装置提升和放置密封电子枪的盖板。本实用新型可以测量光导靶面的靶压、灵敏度(光电流值)、光电惰性(包括上升惰性和下降惰性)、光生载流子的产生率η，光生载流子的漂移迁移率μ和光生载流子的寿命τ。
基本信息
专利标题 ：
动态真空八位光导靶面测试台
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN85200049.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
1985-04-01
授权号 ：
CN85200049U
授权日 ：
1985-10-10
发明人 ：
应根裕杜秉初刘慧敏桂裕宗张剑
申请人 ：
清华大学
申请人地址 ：
北京市海淀区清华园
代理机构 ：
清华大学专利事务所
代理人 ：
胡兰芝
优先权 ：
CN85200049.9
主分类号 ：
H01J9/42
IPC分类号 ：
H01J9/42 G01R31/25
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01J
放电管或放电灯
H01J9/00
专用于制造放电管、放电灯及其部件的设备和方法；从放电管或灯回收材料
H01J9/42
制造过程中的测量或试验
法律状态
1990-08-01 ：
专利权的终止
1986-03-19 ：
授权
1985-10-10 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
1、
CN85200049U.PDF
PDF下载
