一种光学自动对焦仪
专利权的终止
摘要
一种光学自动对焦仪，采用自扫描光电二极管阵列对象空间垂直于光轴的数个平面上的光场分布取样，经峰值保持电路和模数转换电路对取样值进行量化，通过计算机找出各平面上相邻两象元的灰度之差的绝对值之最大值来确定最佳对焦下的象平面。整个探测调焦过程可全由计算机自动控制完成。本实用新型用在单色光成象和象平面的图象很精细的仪器设备上时，对焦效果特别显著。
基本信息
专利标题 ：
一种光学自动对焦仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN85201230.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
1985-04-01
授权号 ：
CN85201230U
授权日 ：
1986-01-08
发明人 ：
王植恒郭履容张冠申
申请人 ：
四川大学
申请人地址 ：
四川省成都市九眼桥
代理机构 ：
四川大学专利事务所
代理人 ：
陈智伦
优先权 ：
CN85201230.6
主分类号 ：
G02F1/29
IPC分类号 ：
G02F1/29
IPC结构图谱
G
G部——物理
G02
光学
G02F
用于控制光的强度、颜色、相位、偏振或方向的器件或装置，例如转换、选通、调制或解调，上述器件或装置的光学操作是通过改变器件或装置的介质的光学性质来修改的；用于上述操作的技术或工艺；变频；非线性光学；光学逻辑元件；光学模拟/数字转换器
G02F1/19
•• G02F1/015至G02F1/167不包括的基于可变的反射或折射元件的
G02F1/29
用于光束的位置或方向的控制，即偏转
法律状态
1989-12-13 ：
专利权的终止
1986-07-23 ：
授权
1986-01-08 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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