测微量具微分筒上棱边高度检定仪
专利权的终止
摘要
测微量具微分筒上棱边高度检测仪，属于测距仪表。它是由一个千分表，一个上部可固定千分表的、下部有一个倒置的V形槽的主体和一个楔形体的、可与千分表顶杆相接的触头构成的。由于V形槽的两个面可与被测具的圆柱母线呈密接触，而且由这两母线构成的平面垂直于顶杆中心线；楔形体的触头下部端棱线和顶杆中心线垂直，而且楔形触头的一个面和主体上靠近触头一端的平面是处于同一平面的故能正确测量套管表面至锥面棱边上边缘的距离。
基本信息
专利标题 ：
测微量具微分筒上棱边高度检定仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN85201876.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
1985-05-23
授权号 ：
CN85201876U
授权日 ：
1986-10-29
发明人 ：
安立平
申请人 ：
安立平
申请人地址 ：
天津市河东区王庄子大街83号(新69号)
代理机构 ：
天津市专利事务所
代理人 ：
周永铨
优先权 ：
CN85201876.2
主分类号 ：
G01B5/02
IPC分类号 ：
G01B5/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B5/00
以采用机械方法为特征的计量设备
G01B5/02
用于计量长度、宽度或厚度
法律状态
1989-11-29 ：
专利权的终止
终止日 : 19870513
1986-10-29 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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