将定向反射从漫反射光谱中消去的遮断设施
被视为撤回的申请
摘要
通过利用一个物理遮断定向反射能流的装置和方法可以得到没有被定向反射所引起的偏差的漫反射光谱。该装置包括一个遮断器，该遮断器在聚焦于样品的入射能流区域与样品表面保持基本接触。利用遮断器将原来反射到检测器的定向反射能流物理遮断了。进入样品的入射流的一部分被漫反射。漫反射能的一部分通过遮断器底部，并被收集及聚焦到探测器上。遮断器被发现在无机化合物的红外光谱分析中有特别的应用，尤其是对粉末结构的化合物。
基本信息
专利标题 ：
将定向反射从漫反射光谱中消去的遮断设施
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN86101254A
申请号 ：
CN86101254
公开（公告）日 ：
1986-10-22
申请日 ：
1986-02-25
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
罗伯特·G·梅塞施米特唐纳德·W·斯延格
申请人 ：
光谱技术公司
申请人地址 ：
美国康涅狄格州斯坦福邮箱2190号格伦布鲁克路652号
代理机构 ：
中国专利代理有限公司
代理人 ：
吴秉芬
优先权 ：
CN86101254
主分类号 ：
G01J3/02
IPC分类号 ：
G01J3/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分，偏振、相位或脉冲特性的测量；比色法；辐射高温测定法
G01J3/00
光谱测定法；分光光度测定法；单色器；测定颜色
G01J3/02
零部件
法律状态
1990-11-14 ：
被视为撤回的申请
1988-06-08 ：
实质审查请求
1986-10-22 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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