交流阻抗微处理机测量系统
被视为撤回的申请
摘要
交流阻抗微处理机测量系统。本发明基于时间域法原理进行设计和工作。该系统主要由Z-80CPU、信号发生、恒电位、采样保持器输出的多路转换数据采集等电路所组成。用机器语言编写的拉普拉斯变换程序固化在机内。具有响应速度快、精度高、频率范围宽(0.01Hz～10KHz)，自动化程度高等优点。该系统可用于实验室作电化学机理研接，也可用于现场实际体系的测量。
基本信息
专利标题 ：
交流阻抗微处理机测量系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN86105986A
申请号 ：
CN86105986
公开（公告）日 ：
1987-02-25
申请日 ：
1986-09-04
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
张小武胡细东姚禄安鲁宗智黄绍元周国强李锂皮斌
申请人 ：
武汉大学
申请人地址 ：
湖北省武汉市武昌珞枷山
代理机构 ：
武汉大学专利事务所
代理人 ：
柳传忠
优先权 ：
CN86105986
主分类号 ：
G01N27/26
IPC分类号 ：
G01N27/26 G01N27/00 G05B15/00 G01R27/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N27/18
••••由于被试环境物质的热传导变化引起的电阻
G01N27/26
通过测试电化学变量；用电解或电泳法
法律状态
1990-01-24 ：
被视为撤回的申请
1987-02-25 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
