低压器件超高阻抗的高精度测量系统
授权
摘要
本实用新型提供了一种结构简单、成本低、效率高、性能强的低压器件超高阻抗的高精度测量系统。本实用新型包括MCU（1）、交流源信号发生装置（2）、串口隔离器（U9）、端口隔离器（U16）、正弦信号隔离装置（U18）、直流源信号发生装置（3）、直流源切换装置（4）、阻抗测量装置（5）、数据采集器（6）、测试电阻模拟开关（7）以及电源，在待测产品外围设置有屏蔽装置（8），所述MCU（1）通过所述端口隔离器（U16）分别与所述阻抗测量装置（5）、所述数据采集器（6）及所述测试电阻模拟开关（7）连接，所述阻抗测量装置（5）和待测产品之间设置有保护环（9），所述电源为整个测量系统供电。本实用新型可应用于测试领域。
基本信息
专利标题 ：
低压器件超高阻抗的高精度测量系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021145564.1
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-06-19
授权号 ：
CN212905144U
授权日 ：
2021-04-06
发明人 ：
王海来孔祥儒康明勇
申请人 ：
珠海市运泰利自动化设备有限公司
申请人地址 ：
广东省珠海市斗门区新青科技工业园内B型厂房
代理机构 ：
广州市红荔专利代理有限公司
代理人 ：
王贤义
优先权 ：
CN202021145564.1
主分类号 ：
G01R27/02
IPC分类号 ：
G01R27/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R27/00
测量电阻、电抗、阻抗或其派生特性的装置
G01R27/02
电阻、电抗、阻抗或其派生的其他两端特性，例如时间常数的实值或复值测量
法律状态
2021-04-06 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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