一种用于半导体器件宽阻抗高精度测试设备
授权
摘要
本实用新型公开了一种用于半导体器件宽阻抗高精度测试设备，包括测试机，测试机的右侧开设有散热网，测试机右侧的顶部固定连接有传动盒，传动盒内壁的前侧固定连接有马达，马达的输出端固定连接有螺杆，螺杆的背面通过轴承与传动盒内壁的后侧固定连接，螺杆的表面螺纹连接有传动块，传动块的底部固定连接有传动杆，传动杆的底部贯穿至传动盒的底部并滑动连接有收集盒。本实用新型解决了现有市面上大多数测试设备的散热网都不具有清理功能，长时间的使用会导致散热网表面附着有大量的灰尘，使散热网堵住无法起到散热的效果，从而降低了测试设备的实用性的问题，达到了对散热网进行清理提高散热效率的效果。
基本信息
专利标题 ：
一种用于半导体器件宽阻抗高精度测试设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022420058.5
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-10-27
授权号 ：
CN214680661U
授权日 ：
2021-11-12
发明人 ：
周铁平
申请人 ：
昆山镁科隆电子有限公司
申请人地址 ：
江苏省苏州市昆山市千灯镇黄浦江南路288号
代理机构 ：
代理人 ：
优先权 ：
CN202022420058.5
主分类号 ：
B01D46/10
IPC分类号 ：
B01D46/10 B01D46/00 B01D46/48 B08B1/00 B08B15/04 G01R1/02
IPC结构图谱
B
B部——作业；运输
B01
一般的物理或化学的方法或装置
B01D46/00
专门用于把弥散粒子从气体或蒸气中分离出来的经过改进的过滤器和过滤方法
B01D46/10
采用具有平表面的滤板、滤片或滤垫的粒子分离器，如聚尘器
法律状态
2021-11-12 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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