低压器件超高阻抗的高精度测量系统架构
授权
摘要
本实用新型提供了一种结构简单、成本低、易于实现且能够保证测试精度的低压器件超高阻抗的高精度测量系统架构。本实用新型包括隔离耦合连接的测试底板（1）和高阻抗信号输入测试板（2），所述测试底板（2）为整个架构的基础板，所述高阻抗信号输入测试板（2）通过测试转接板（3）与待测产品连接，所述测试转接板（3）与待测产品连接的部分的外围设置有屏蔽罩（4），所述测试底板（1）上架设有电源板（5）、微处理器（6）、至少一个传感器、数模转换器（7）、模数转换器（8）、直接数字式频率合成器（9）及通道切换装置（10），所述电源板（5）为整个系统架构供电。本实用新型可应用于测试架构领域。
基本信息
专利标题 ：
低压器件超高阻抗的高精度测量系统架构
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202021145668.2
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-06-19
授权号 ：
CN213337808U
授权日 ：
2021-06-01
发明人 ：
王海来梁品聪孔祥儒龙元华
申请人 ：
珠海市运泰利自动化设备有限公司
申请人地址 ：
广东省珠海市斗门区新青科技工业园内B型厂房
代理机构 ：
广州市红荔专利代理有限公司
代理人 ：
王贤义
优先权 ：
CN202021145668.2
主分类号 ：
G01R27/02
IPC分类号 ：
G01R27/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R27/00
测量电阻、电抗、阻抗或其派生特性的装置
G01R27/02
电阻、电抗、阻抗或其派生的其他两端特性，例如时间常数的实值或复值测量
法律状态
2021-06-01 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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