长行程速度位移测量仪
专利权的终止
摘要
本实用新型是一种电子测量仪器，它能够在长行程中同时测量速度和位移两个参数。其行程可达±250mm，是国内外罕见的。可用于研究做往复直线运动的机器构件的运动状况。本测量仪结构简单、性能可靠、成本低廉、使用方便。在机械工程的各个行业中均可得到广泛应用。
基本信息
专利标题 ：
长行程速度位移测量仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN86205360.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
1986-07-17
授权号 ：
CN86205360U
授权日 ：
1987-05-20
发明人 ：
王光铨胡志明乔桂芳刘伟
申请人 ：
西安交通大学
申请人地址 ：
陕西省西安市咸宁路28号
代理机构 ：
西安交通大学专利事务所
代理人 ：
王民培
优先权 ：
CN86205360.9
主分类号 ：
G01M13/00
IPC分类号 ：
G01M13/00 G01P3/50
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M13/00
机械部件的测试
法律状态
1990-12-19 ：
专利权的终止
1987-12-02 ：
授权
1987-05-20 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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