玻璃微珠高折射率的测定方法
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
选用经最小偏角法测得的AgBr、AgCl的高折射率(n介10-4)材料作介质；用Interphako显微干涉法，测玻璃微珠的直径D，干涉条纹位移量b/a，根据介质的n介，D、b/a，测量时所用光的波长，即可按公式算出微珠折射率。本发明方法简便可行，精度高(可达10-4)，可对大批微珠进行逐个、无损的测定。
基本信息
专利标题 ：
玻璃微珠高折射率的测定方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1030981A
申请号 ：
CN87101087.9
公开（公告）日 ：
1989-02-08
申请日 ：
1987-07-23
授权号 ：
CN1010891B
授权日 ：
1990-12-19
发明人 ：
陈显球虞玲方凌
申请人 ：
中国科学院上海硅酸盐研究所
申请人地址 ：
上海市长宁区长宁路865号
代理机构 ：
中国科学院上海专利事务所
代理人 ：
聂淑仪
优先权 ：
CN87101087.9
主分类号 ：
G01N21/45
IPC分类号 ：
G01N21/45
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/41
折射率；影响相位的性质，例如光程长度
G01N21/45
利用干涉量度法，利用纹影方法
法律状态
1995-09-13 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1991-07-24 ：
授权
1990-12-19 ：
审定
1989-02-08 ：
公开
1988-04-13 ：
实质审查请求
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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