一种双折射率的测定装置和测定方法
授权
摘要
本发明公开一种双折射率的测定装置,属于光学与晶体学领域,其包括测量光源、扩束镜、汇聚物镜、棱镜、波片、载物台组件、物镜、镜筒、滤波片、偏振片、针孔光阑,扩束镜设置在测量光源的出射方向上,汇聚物镜设置在扩束镜出射光方向上,棱镜设置在汇聚物镜出射光方向上,棱镜的底面设置待测样品,待测样品设置在载物台组件上,物镜末端设置有镜筒,在镜筒和物镜之间设置有滤波片,镜筒内依次设置有偏振片和针孔光阑,载物台组件能升降、旋转、X方向和Y方向的移动,采集从针孔光阑出射的携带有待测样品折射率信息的出射光,从而能获得折射率。本发明装置能精确、方便地测量获得物体的双折射率信息。
基本信息
专利标题 :
一种双折射率的测定装置和测定方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN112557344A
申请号 :
CN202011371090.7
公开(公告)日 :
2021-03-26
申请日 :
2020-11-30
授权号 :
CN112557344B
授权日 :
2022-04-08
发明人 :
郭文平关淙元夏珉李微杨克成
申请人 :
华中科技大学
申请人地址 :
湖北省武汉市珞喻路1037号
代理机构 :
武汉华之喻知识产权代理有限公司
代理人 :
王世芳
优先权 :
CN202011371090.7
主分类号 :
G01N21/41
IPC分类号 :
G01N21/41
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/41
折射率;影响相位的性质,例如光程长度
法律状态
2022-04-08 :
授权
2021-04-13 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/41
申请日 : 20201130
申请日 : 20201130
2021-03-26 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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