旋光的比光强测定法及快速检糖仪
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
一种旋光的比光强测定方法与快速检糖仪。所述旋光的比光强测定方法是，将一束偏振光相继通过一旋光介质与一偏振分光棱镜，检测由偏振分光棱镜出射的两分束的光强比。由此确定出棱镜入射光的偏振角，得出旋光介质的旋光度。所述快速检糖仪采用了上述方法，可同时，直接对动态的糖料样品进行旋光度、拆光锤度、温度的连继检测，并通过电子计算机得出含糖量、纯度等指标。检测速度快、稳定性好、精度高，适于工业化在线检测。
基本信息
专利标题 ：
旋光的比光强测定法及快速检糖仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN87102016A
申请号 ：
CN87102016.5
公开（公告）日 ：
1988-11-02
申请日 ：
1987-04-18
授权号 ：
CN1007014B
授权日 ：
1990-02-28
发明人 ：
易庚云
申请人 ：
湖南省技术物理研究所
申请人地址 ：
湖南省长沙青园路七号
代理机构 ：
湖南省专利服务中心
代理人 ：
马强
优先权 ：
CN87102016.5
主分类号 ：
G01N21/21
IPC分类号 ：
G01N21/21
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/21
影响偏振的性质
法律状态
1993-08-04 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1990-11-28 ：
授权
1990-02-28 ：
审定
1988-11-02 ：
公开
1987-09-09 ：
实质审查请求
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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