应用于光检检测系统的自检装置及光检检测系统

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摘要

本实用新型公开了一种应用于光检检测系统的自检装置及光检检测系统。所述自检装置包括光学检测通道和与光学检测通道配合的挡光机构，所述挡光机构包括挡光板，所述挡光板能够在驱动机构的驱使下到达或离开检测工位，在所述检测工位处所述挡光板能完全遮盖光学检测通道，所述光学检测通道还与光学检测机构配合设置，所述挡光板上分布有检测孔，所述检测孔上设置有可更换的遮光件，所述遮光件上分布有微型通孔。本实用新型提供的自检装置结构简单，只需要更换挡光板上的遮光件即可实现对精度的改变，该遮光件上有微孔，微孔大小根据客户要求的检测精度来设计。

基本信息

专利标题：

应用于光检检测系统的自检装置及光检检测系统

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201922445513.4

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-12-30

授权号：

CN211235579U

授权日：

2020-08-11

发明人：

安旭朱云华汪洋

申请人：

苏州斯莱克精密设备股份有限公司

申请人地址：

江苏省苏州市吴中区胥口镇石胥路621号

代理机构：

南京利丰知识产权代理事务所(特殊普通合伙)

代理人：

王锋

优先权：

CN201922445513.4

主分类号：

G01N21/88

IPC分类号：

G01N21/88 G01N21/01 G01M11/02