测试机台自检系统及检测方法
授权
摘要
本发明提供了一种测试机台自检系统及检测方法,所述测试机台自检系统包括:一检测电路,供设于所述测试机台及供测试一电子产品的电路结构;一标准电阻,具有一标准电阻值,电性连接所述检测电路以形成一自检电路;一电压检测单元,电性连接所述自检电路;其中,当输电至所述自检电路时,所述电压检测单元取得所述自检电路的一测试电压值,所述电压检测单元依据所述测试电压值计算所述标准电阻的一测试电阻值,所述电压检测单元并依据所述标准电阻值及所述测试电阻值判断所述检测电路的一检测结果。
基本信息
专利标题 :
测试机台自检系统及检测方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN111044961A
申请号 :
CN201811195848.9
公开(公告)日 :
2020-04-21
申请日 :
2018-10-15
授权号 :
CN111044961B
授权日 :
2022-06-10
发明人 :
吴茂祥
申请人 :
吴茂祥
申请人地址 :
中国台湾台中市
代理机构 :
北京北新智诚知识产权代理有限公司
代理人 :
朱丽华
优先权 :
CN201811195848.9
主分类号 :
G01R35/00
IPC分类号 :
G01R35/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R35/00
包含在本小类其他组中的仪器的测试或校准
法律状态
2022-06-10 :
授权
2020-05-15 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 35/00
申请日 : 20181015
申请日 : 20181015
2020-04-21 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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