坏点自检测装置及芯片
授权
摘要
本实用新型提供了一种静态随机存取存储器的坏点自检测装置及芯片。坏点自检测装置包括：控制器，用于实现对静态随机存取存储器的读写控制；自检测器，包括：监测单元，用于对静态随机存取存储器的工作状态进行监测；通知单元，连接监测单元，用于在静态随机存取存储器处于空闲状态的情况下，将待测存储地址及标准数据发送给控制器，控制器据此对待测存储地址对应的存储单元进行数据读写；检测单元，用于判断从待测存储地址读取的读取数据与标准数据是否一致，进而判断待测存储地址对应的存储单元是否存在坏点。本技术方案能够实现对于芯片中静态随机存取存储器的中各个存储单元的坏点自检测，提升搭载有静态随机存取存储器的芯片的工作可靠性。
基本信息
专利标题 ：
坏点自检测装置及芯片
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202122435214.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2021-10-09
授权号 ：
CN216749321U
授权日 ：
2022-06-14
发明人 ：
孟祥隆张竞成谢晓王豪杰
申请人 ：
思特威（上海）电子科技股份有限公司
申请人地址 ：
上海市浦东新区中国（上海）自由贸易试验区祥科路111号3号楼6楼612室
代理机构 ：
上海汉声知识产权代理有限公司
代理人 ：
胡晶
优先权 ：
CN202122435214.X
主分类号 ：
G11C29/56
IPC分类号 ：
G11C29/56
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C29/48
专门适用于从外部到存储器的静态存储中的测试装置，例如：用直接存储器存取或者用辅助访问路径
G11C29/56
用于静态存储器的外部测试装置，例如，自动测试设备；所用接口
法律状态
2022-06-14 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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