半导体整流器件动态寿命试验机及质量分级方法
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
本发明公开了一种半导体整流器件动态寿命试验机及其寿命估算与质量评价方法。可以更加科学、准确地对器件的连续寿命参数做出有价值的分析。其基本设计思想是在标准工况下建立器件的动态试验装置，在提取R参数的监测中得出其寿命估价函数，从而不但能判断其是否通过寿命试验，而且可估算通过器件的寿命。因而它和理有寿命试验相比有更加实用的价值。
基本信息
专利标题 ：
半导体整流器件动态寿命试验机及质量分级方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1030301A
申请号 ：
CN87104597.4
公开（公告）日 ：
1989-01-11
申请日 ：
1987-07-01
授权号 ：
CN1011823B
授权日 ：
1991-02-27
发明人 ：
赵富李增锡葛淑欣霍一平
申请人 ：
石家庄市自动化研究所
申请人地址 ：
河北省石家庄市长安东路12号
代理机构 ：
河北省专利事务所
代理人 ：
王苑祥
优先权 ：
CN87104597.4
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
1995-08-23 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1992-09-23 ：
授权
1991-02-27 ：
审定
1989-10-25 ：
实质审查请求
1989-01-11 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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