半导体整流器件动态质量分选装置
专利权的终止专利权有效期届满
摘要
本实用新型公开了一种半导体整流器件动态质量分选装置，它包括被测件的预热装置，标况工况建立部分，分选机构，其根据动态反向平均电流以环境温度Ta及检测动态反向平均电流依据，实现多级检测分析，配合一级复检装置。它可以保证上机合格率，极有利于生产厂和使用厂进行质量控制。
基本信息
专利标题 ：
半导体整流器件动态质量分选装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN87209491.X
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
1987-06-24
授权号 ：
CN87209491U
授权日 ：
1988-05-11
发明人 ：
赵富李曾锡葛淑欣霍一平
申请人 ：
石家庄市自动化所
申请人地址 ：
河北省石家庄市长安东路12号
代理机构 ：
河北省专利事务所
代理人 ：
王苑祥
优先权 ：
CN87209491.X
主分类号 ：
G01R31/26
IPC分类号 ：
G01R31/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
1993-03-24 ：
专利权的终止专利权有效期届满
1989-01-25 ：
授权
1988-05-11 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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