位移检测

被视为撤回的申请

摘要

用来确定物体位移的装置，它包括一个沿通向一检测器(7)的光程传播多色光用的光源(1)。相对于光源(1)的预定固定位置上配有例如滤光片(5)的辐射调制装置，响应物体的位移而调整光程，以便改变到达检测器(7)的光的分布光谱含量。检测器包括对于波长具有不同响应度的第一和第二光响应元件(10，11)，而一个微处理机(14)接收来自光响应元件的信号。微处理机算出如色品(CIE)图上的两个或两个以上参数表示的，检测器(7)上的入射光线的颜色，并且利用物体的位移解释检测器7上的入射光线的颜色。

基本信息

专利标题：

位移检测

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN87107180A

申请号：

CN87107180

公开（公告）日：

1988-05-04

申请日：

1987-10-24

授权号：

暂无

授权日：

暂无

发明人：

菲利普·詹姆斯·亨德森

申请人：

比克有限公司

申请人地址：

英国英格兰伦敦

代理机构：

中国专利代理有限公司

代理人：

吴秉芬

优先权：

CN87107180

主分类号：

G01B11/04

IPC分类号：

G01B11/04