变温霍尔实验仪
专利权的终止未缴纳年费专利权终止
摘要
变温霍尔实验仪，属教学科研仪器类。现有的霍尔效应实验仪只能测室温情况下的半导体霍尔系数、电导率、迁移率、载流子浓度等参数。本实用新型的实验仪，采用真空装置和冷却装及恒温器，在77°K—400°K温度区间，对半导体材料的上述参数的测试，通过加热器、温度感应器及微机控制，能贮存并自动打印出logR与
基本信息
专利标题 ：
变温霍尔实验仪
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN87207793.4
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
1987-05-09
授权号 ：
CN87207793U
授权日 ：
1988-03-23
发明人 ：
于耀川徐寿定范东华胡长有周仁楷李瑞云李平江
申请人 ：
东北师范大学科教仪器厂;中国科学院半导体研究所
申请人地址 ：
吉林省长春市斯大林大街110号
代理机构 ：
吉林省专利服务中心
代理人 ：
江山
优先权 ：
CN87207793.4
主分类号 ：
G01N27/00
IPC分类号 ：
G01N27/00 G01R33/06
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N27/00
用电、电化学或磁的方法测试或分析材料
法律状态
1991-10-02 ：
专利权的终止未缴纳年费专利权终止
1989-02-01 ：
授权
1988-03-23 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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