温度控制系统及变温霍尔效应实验装置
授权
摘要
本实用新型申请提供了一种温度控制系统及使用该温度控制系统的变温霍尔效应实验装置,目的是解决现有变温霍尔效应实验装置中温度控制结构操作繁琐及体积庞大而导致的不易操作、耗能等技术问题。上述温度控制系统包括半导体制冷片、温度传感器、热管、散热器和电控装置。通过热管辅助散热的半导体制冷片实现待测材料的温度变化。热管和半导体制冷片结构偏平，有利于缩减两磁极间距，以窄磁隙、低能耗实施实验。同时，半导体制冷片的温度调节由电控装置控制，使用简单，易于操作。具有上述温度控制系统的变温霍尔效应实验装置，可采用狭窄的磁隙，以减小电磁体组件体积。窄磁隙还使工作电流减小、散热压力降低，从而缩减实验装置的整体体积。
基本信息
专利标题 ：
温度控制系统及变温霍尔效应实验装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202022524313.0
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2020-11-04
授权号 ：
CN213182447U
授权日 ：
2021-05-11
发明人 ：
何健钊周锦泽李旭冯强范勇胡中军
申请人 ：
四川世纪中科光电技术有限公司
申请人地址 ：
四川省成都市经济技术开发区（龙泉驿区）南二路309号
代理机构 ：
成都赛恩斯知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 ：
张帆
优先权 ：
CN202022524313.0
主分类号 ：
G05D23/19
IPC分类号 ：
G05D23/19
IPC结构图谱
G
G部——物理
G05
控制；调节
G05D
非电变量的控制或调节系统
G05D23/00
温度的控制
G05D23/19
以使用电装置为特征的
法律状态
2021-05-11 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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