一款霍尔效应测试架
授权
摘要

本实用新型公开了一款霍尔效应测试架,包括测试底座、安装在测试底座上的电磁铁以及霍尔测试组件;其特征还包括安装在测试底座上提高霍尔测试组件调节精度的双杆定位式调节支架;所述霍尔测试组件通过螺钉可拆卸安装在测试底座的双杆定位式调节支架上。本实用新型通过双杆定位式调节支架的设置,利用双杆定位式调节支架对霍尔测试组件进行调节,从而提高霍尔测试组件调节的精度以及测试的准确性;通过将霍尔测试组件利用螺钉可拆卸安装在双杆定位式调节支架上,从而便于霍尔测试组件的拆卸更换;通过双杆定位式调节支架上调节刻度条的设置,利用调节刻度条控制双杆定位式调节支架对霍尔测试组件调节的距离,从而提高霍尔测试组件调节的精度。

基本信息
专利标题 :
一款霍尔效应测试架
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202122825606.7
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-11-18
授权号 :
CN216248292U
授权日 :
2022-04-08
发明人 :
万建国游彪王震叶旭
申请人 :
南京大学;杭州大华仪器制造有限公司
申请人地址 :
江苏省南京市栖霞区仙林大道163号
代理机构 :
杭州永绎专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
胡英超
优先权 :
CN202122825606.7
主分类号 :
G01R33/07
IPC分类号 :
G01R33/07  G01R1/04  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R33/00
测量磁变量的装置或仪器
G01R33/02
测量磁场或磁通量的方向或大小
G01R33/06
采用电磁器件
G01R33/07
霍耳效应器件
法律状态
2022-04-08 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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