一种在透射电子显微镜中测试材料霍尔/反常霍尔效应的方法
授权
摘要
本发明涉及一种在透射电子显微镜中测试材料霍尔/反常霍尔效应的方法，包括以下步骤：(1)选取微纳尺度测试样品与原位测试芯片连接固定，得到样品/芯片器件；(2)将样品/芯片器件置于原位测试样品杆中，再插入透射电子显微镜中；(3)对样品/芯片器件所在区域施加磁场，并对样品/芯片器件通入电流，在透射电子显微镜同步观察过程中获取霍尔/反常霍尔效应相关数据，即完成。与现有技术相比，本发明实现了在透射电子显微镜原位测试平台中，对材料形貌/磁畴结构和输运特性的同步观察。
基本信息
专利标题 ：
一种在透射电子显微镜中测试材料霍尔/反常霍尔效应的方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN113125474A
申请号 ：
CN202110295694.6
公开（公告）日 ：
2021-07-16
申请日 ：
2021-03-19
授权号 ：
CN113125474B
授权日 ：
2022-05-20
发明人 ：
车仁超裴科杨利廷张瑞轩杨辰迪张捷
申请人 ：
复旦大学
申请人地址 ：
上海市杨浦区邯郸路220号
代理机构 ：
上海科盛知识产权代理有限公司
代理人 ：
刘燕武
优先权 ：
CN202110295694.6
主分类号 ：
G01N23/04
IPC分类号 ：
G01N23/04 G01N23/20058 G01N23/20008 G01N1/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
法律状态
2022-05-20 ：
授权
2021-08-03 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 23/04
申请日 : 20210319
申请日 : 20210319
2021-07-16 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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