一种可调温型霍尔效应测试仪
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摘要

本实用新型公开了一种可调温型霍尔效应测试仪,包括:本体,所述本体上表面中部开有样品槽,本体后表面开有贯通到样品槽内的散热插孔,散热插孔包括一个以上,散热插孔沿样品槽深度方向均匀分布;热管,所述热管与散热插孔相匹配,热管与散热插孔数量相同,每个扇热插孔上插接一根热管,热管长度大于散热插孔长度;加热制冷装置,所述加热制冷装置与热管伸出散热插孔的部分接触;控制器,所述控制器与加热制冷装置电连接;温度传感器,所述温度传感器设置在样品槽内部,所述温度传感器与控制器电连接。以解决现有技术能够测试的温度较少,另外当测试样品参数随温度的变化规律时,现有的霍尔效应测试仪也做不到的问题。

基本信息
专利标题 :
一种可调温型霍尔效应测试仪
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202022148463.6
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-09-27
授权号 :
CN213398803U
授权日 :
2021-06-08
发明人 :
王一郭祥王继红李军丽杨晨罗子江张正丽丁召
申请人 :
贵州大学
申请人地址 :
贵州省贵阳市花溪区贵州大学花溪北校区科技处
代理机构 :
贵阳中新专利商标事务所
代理人 :
张彪
优先权 :
CN202022148463.6
主分类号 :
G01R31/26
IPC分类号 :
G01R31/26  G01R1/02  G01R1/04  G01R33/12  G05D23/19  F25B21/02  F25D31/00  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2021-06-08 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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