一种基于霍尔效应的双棱镜干涉实验测量装置
授权
摘要

本实用新型公开了一种基于霍尔效应的双棱镜干涉实验测量装置,包括激光器、第一凸透镜、位移处理显示系统、通电线圈、光电探测器、霍尔传感器、滑座、第二凸透镜、轨道和双棱镜;所述激光器、第一凸透镜、双棱镜、第二凸透镜和光电探测器五个光学元件依次排列在轨道上,并处于同一光轴线上;霍尔传感器与光电探测器连接,霍尔传感器放置在两块平行通电线圈中间,移动光电探测器时带动与其连接的霍尔传感器一同移动,则霍尔电压发生变化;位移处理显示系统与霍尔传感器连接,将霍尔电压的变化转化为光电探测器的位移数值显示出来。本实用新型可以使得光路共轴调节直观可见,实现对干涉条纹间距的自动测量,也使得测量干涉条纹间距更方便和准确。

基本信息
专利标题 :
一种基于霍尔效应的双棱镜干涉实验测量装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202021537185.7
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-07-30
授权号 :
CN212621141U
授权日 :
2021-02-26
发明人 :
段秀铭易志军张伦
申请人 :
中国矿业大学
申请人地址 :
江苏省徐州市大学路1号
代理机构 :
苏州衡创知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
王睿
优先权 :
CN202021537185.7
主分类号 :
G01J9/02
IPC分类号 :
G01J9/02  G01B7/02  G01B7/14  G09B23/22  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01J
红外光、可见光、紫外光的强度、速度、光谱成分,偏振、相位或脉冲特性的测量;比色法;辐射高温测定法
G01J9/00
测量光学相位差;测定相干性的程度;测量光学波长
G01J9/02
采用干涉法
法律状态
2021-02-26 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
1、
CN212621141U.PDF
PDF下载
  • 联系电话
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 联系 Q Q
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 关注微信
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 收藏
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332