白光干涉实验仪

授权

摘要

本实用新型公开了一种白光干涉实验仪，包括白光光源、半导体激光器、第一分光镜、第二分光镜、被测平面、参考镜和成像机构，所述白光光源、半导体激光器分别设置在所述第一分光镜的相邻两侧方，所述白光光源和半导体激光器发出的光经所述第一分光镜后具有相同的光路，所述光路为光线经过所述第二分光镜分成两束分别经过所述被测平面、参考镜反射后再次经过所述第二分光镜后发生干涉并进入所述成像机构由所述成像机构显示。本实用新型利用半导体激光器进行各元件位置调整，解决直接依靠白光调整难度大，难以获得干涉条纹的问题，降低实验难度，提高成功概率。

基本信息

专利标题：

白光干涉实验仪

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

暂无

申请号：

CN201920981440.8

公开（公告）日：

暂无

申请日：

2019-06-27

授权号：

CN209910585U

授权日：

2020-01-07

发明人：

陈凡张俊飞陈小林王旭成刘念陶杨丽佳

申请人：

复拓科学仪器（苏州）有限公司

申请人地址：

江苏省苏州市常熟市高新技术产业开发区湖山路333号同济科技广场1幢504

代理机构：

南京苏高专利商标事务所(普通合伙)

代理人：

张俊范

优先权：

CN201920981440.8

主分类号：

G01B9/02

IPC分类号：

G01B9/02