超声波探伤缺陷定位尺
专利权的终止未缴纳年费专利权终止
摘要
一种超声波缺陷定位尺，由尺身、滑尺、游标构成。尺身由面板(5)、限位臂(2)和(3)以及板条(6)和(7)组成。在面板(5)上设置有标注有K值的斜线族。在板条(6)和(7)上分别设置有K尺标和X尺标，在滑尺(4)的中间处设置有坐标系，其两边设置有C尺标和XF尺标。上述四种尺标满足了缺陷定位尺的计算需要。利用本定位尺能方便地配合超声波探伤仪对缺陷进行现场快速定位，无需进行繁琐的数学计算。
基本信息
专利标题 ：
超声波探伤缺陷定位尺
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN87214287.6
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
1987-10-12
授权号 ：
CN87214287U
授权日 ：
1988-08-03
发明人 ：
朱宝安
申请人 ：
天津大学分校
申请人地址 ：
天津市鞍山西道
代理机构 ：
天津大学专利代理事务所
代理人 ：
江镇华
优先权 ：
CN87214287.6
主分类号 ：
G01N29/04
IPC分类号 ：
G01N29/04 G06C1/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N29/00
利用超声波、声波或次声波来测试或分析材料；靠发射超声波或声波通过物体得到物体内部的显像
G01N29/04
固体分析
法律状态
1991-03-13 ：
专利权的终止未缴纳年费专利权终止
1989-03-22 ：
授权
1988-08-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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