显微镜光度计
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
本实用新型提供了一种定量测试细微物体反射率的装置，它通过设置三维可调的光度计视域光栏透镜来与显微镜视域光栏透镜分别承担使光度计视域光栏和显微镜视域光栏成象的任务，从而排除杂散光的影响，提高了仪器的分辨率；并且通过对测量光栏实施一次性调试一光斑验证法，使它置于物象平面并与光度计视域光栏象同轴，简化了现有的显微镜光度计的测量光栏系统，从而减少了光吸收，降低了对测量部分的要求，降低了装置的成本。
基本信息
专利标题 ：
显微镜光度计
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN87214585.9
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
1987-10-20
授权号 ：
CN87214585U
授权日 ：
1988-06-29
发明人 ：
刘崇保
申请人 ：
地质矿产部海洋地质综合研究大队
申请人地址 ：
上海市延安西路526号
代理机构 ：
上海专利事务所
代理人 ：
吴淑芳
优先权 ：
CN87214585.9
主分类号 ：
G01N21/00
IPC分类号 ：
G01N21/00 G01J1/10
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
法律状态
1993-02-17 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1989-03-01 ：
授权
1988-06-29 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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