监控细长结构状态的方法及实现该方法用的设备
专利申请的视为撤回
摘要
一种监控细长结构(1)状态用的方法在于，至少要沿着该结构的三条母线布置及固定波能传输延伸线(5)。根据测得的该母线的弯曲确定细长结构(1)纵轴(6)的弯曲和扭转以及选定的坐标和力学特性。 实现上述方法用的设备，它包括调制波能缝(4)，空间滤波器(8)，波能传输延伸线(5)，空间滤波器(12)、模拟处理信息部件(7)、微处理机(27)和视频终端机(16)。
基本信息
专利标题 ：
监控细长结构状态的方法及实现该方法用的设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1035557A
申请号 ：
CN88109183.9
公开（公告）日 ：
1989-09-13
申请日 ：
1988-10-28
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
塞格·迈克哈劳维克·迈克核维
申请人 ：
中央地质科学研究院有色及贵金属研究所
申请人地址 ：
苏联莫斯科
代理机构 ：
中国国际贸易促进委员会专利代理部
代理人 ：
王栋令
优先权 ：
CN88109183.9
主分类号 ：
G01B15/04
IPC分类号 ：
G01B15/04 G01L1/25
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B15/00
以采用波或粒子辐射为特征的计量设备
G01B15/04
用于计量轮廓或曲率
法律状态
1993-02-10 ：
专利申请的视为撤回
1990-06-27 ：
实质审查请求
1989-09-13 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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